A interação do feixe de elétrons com a amostra ...

457941200661799

Ano: 2016Banca: IADESOrganização: PC-DFDisciplina: Física GeralTemas: Eletromagnetismo | Campo Magnético e Força Magnética

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O advento da técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) possibilitou muitos avanços na área forense, tornando-a rapidamente uma das ferramentas mais poderosas, eficientes e precisas. O princípio de funcionamento da MEV baseia-se na geração de um feixe de elétrons a partir de um filamento envolto em um campo com diferença de potencial, que direciona o feixe.

DOREA, L. E.; QUINTELA, V.; STRUMVOLL, V. P.; TOCCHETTO, D.

Criminalística. 4. ed. Campinas: Millennium Editora, 2010, com adaptações.

A interação do feixe de elétrons com a amostra origina uma série de fenômenos físicos, os quais podem ser medidos por vários detectores. Entre eles, os mais comuns detectam elétrons

primários, que fornecem dados quanto à superfície da amostra, e elétrons secundários, que permitem identificar a composição e topografia da amostra.

transmitidos, que fornecem detalhes do interior da amostra, e elétrons retroespalhados, que indicam a morfologia da amostra.

secundários, que fornecem informações quanto à superfície da amostra, e elétrons retroespalhados, que fornecem informações quanto à composição e topografia da amostra.

transmitidos, que indicam a composição da amostra, e elétrons espalhados, que fornecem informações quanto à topografia da amostra.

livres, que fornecem informações quanto à morfologia da amostra, e elétrons de camadas mais internas, que indicam a composição da amostra.

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Ano: 2016Banca: IADESOrganização: PC-DFDisciplina: Física GeralTemas: Eletromagnetismo | Campo Magnético e Força Magnética

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DOREA, L. E.; QUINTELA, V.; STRUMVOLL, V. P.; TOCCHETTO, D.

Criminalística. 4. ed. Campinas: Millennium Editora, 2010, com adaptações.

A interação do feixe de elétrons com a amostra origina uma série de fenômenos físicos, os quais podem ser medidos por vários detectores. Entre eles, os mais comuns detectam elétrons

primários, que fornecem dados quanto à superfície da amostra, e elétrons secundários, que permitem identificar a composição e topografia da amostra.

transmitidos, que fornecem detalhes do interior da amostra, e elétrons retroespalhados, que indicam a morfologia da amostra.

secundários, que fornecem informações quanto à superfície da amostra, e elétrons retroespalhados, que fornecem informações quanto à composição e topografia da amostra.

transmitidos, que indicam a composição da amostra, e elétrons espalhados, que fornecem informações quanto à topografia da amostra.

livres, que fornecem informações quanto à morfologia da amostra, e elétrons de camadas mais internas, que indicam a composição da amostra.

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