O estudo topográfico de varredura utiliza, para a ...

Q: O estudo topográfico de varredura utiliza, para a geração de imagens, elétrons secundários produzidos por ionização da amostra e da camada metálica que a reveste. De acordo com Silveira (2011), em Téc

A) a cobertura metálica da amostra, a colimação do feixe eletrônico e a corrente do helmet. | B) o diâmetro da sonda de varredura e os ângulos de incidência e de convergência do feixe eletrônico. | C) a corrente da sonda de varredura, a corrente do helmet e o ângulo de incidência do feixe eletrônico. | D) o diâmetro da sonda de varredura, o ângulo de divergência do feixe eletrônico e a corrente da sonda. | E) a intensidade da corrente do helmet, a cobertura metálica da amostra e a colimação do feixe eletrônico.

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Ano: 2018Banca: UFESOrganização: UFESDisciplina: Técnicas LaboratoriaisTemas: Histologia e Microscopia

O estudo topográfico de varredura utiliza, para a geração de imagens, elétrons secundários produzidos por ionização da amostra e da camada metálica que a reveste. De acordo com Silveira (2011), em Técnicas de Microscopia Eletrônica Aplicadas às Ciências Biológicas, os parâmetros mais importantes para a formação de imagens no Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) são:

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