A difratometria de raios X corresponde a uma das p...

Q: A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. Sobre a difr

A) a difração de raios X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios X incidentes sobre uma amostra. | B) os planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares, bem como as densidades de átomos, são características comuns a várias substâncias cristalinas. | C) a determinação de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, sem a necessidade de comparação com padrão ou calibração instrumental. | D) a intensidade de difração de raios X independe do número de elétrons dos átomos em um dado plano cristalino. | E) as condições para que ocorra a difração de raios X vão depender apenas do comprimento de onda da radiação incidente.

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Ano: 2024Banca: FIOCRUZOrganização: FIOCRUZDisciplina: Farmacologia e SaúdeTemas: Química Analítica e Espectroscopia | Gestão da Qualidade Industrial

A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. Sobre a difratometria de raios X, é correto afirmar que:

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