Sobre a técnica de difração de raios X (DRX) de amostras
policristalinas, são feitas as seguintes afirmações:
I. O padrão de difração de uma amostra policristalina pode ser
utilizado para identificar as diferentes fases cristalinas presentes
nela.
II. Para amostras policristalinas de nanopartículas, quanto mais
largos os picos de difração, maior será o tamanho médio das
nanopartículas.
III. A posição de um pico de difração (2θ) é independente da fonte
de radiação utilizada.
É correto afirmar que