Quatro módulos de uma mesma placa eletrônica foram testados e
os resultados estão listados a seguir.
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo,
que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e
que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como
um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio
até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa
eletrônica sejam, respectivamente,