Por meio da análise de árvore de falhas (AAF), conhecida como top-down, é possível analisar um evento de falha qualquer, buscando-se as origens da falha; por meio da análise de modos de falhas e eventos (AMFE), conhecida como bottom-up, por sua vez, é possível verificar como os componentes dos equipamentos falham, além de determinar os efeitos da falha.