Questões Técnico Forense para Concursos

A espectroscopia Raman não foi uma escolha adequada, pois ela não pode ser utilizada para diferenciação de tintas na cor preta.

O fato de a tinta penetrar na folha do cheque, misturando-se com as fibras do papel, torna impossível a análise de tinta isolada das fibras do papel pela espectroscopia Raman.

A espectroscopia Raman não foi uma escolha apropriada, pois os lasers utilizados nessa técnica sempre queimam a folha de papel, o que inviabilizaria a medida e destruiria a prova material desse caso suspeito de falsificação.

A técnica de espectroscopia Raman permite diferenciar tintas de qualquer cor, desde que elas tenham composições químicas distintas.

A análise dos vários espectros Raman obtidos em diversos pontos do dígito 4 independe das características da caneta que foi usada na suposta falsificação do documento.

I, II e III.

I, II e V.

I, III e IV.

II, IV e V.

III, IV e V.

da frequência vibracional das moléculas.

da fluorescência da amostra.

da organização dos átomos, que devem apresentar periodicidade ao longo do espaço.

das propriedades óticas do material.

da capacidade da amostra em conduzir uma corrente elétrica.

O detector de energia dispersiva é um detector de cintilador, usado para detectar os raios X e converter sua energia em cargas elétricas.

Os tipos de materiais mais usados para os semicondutores são o silício (Si) e o germânio (Ge). Os detectores de Si, ao contrário dos detectores de Ge, não precisam ser resfriados, pois não produzem correntes térmicas.

Ao se iniciar a identificação de um espectro, é recomendável que se inicie com os picos situados na parte-final do espectro, pois é nessa região que se encontram as raias de menor energia e de melhor resolução.

Somente os picos estatisticamente significativos devem ser considerados para análise qualitativa. Como regra, a altura desses picos deve ser dez vezes maior que a altura do background.

Se dois raios X de mesma intensidade penetrarem no detector em intervalos de tempo menores que a resolução desse detector, eles serão captados como uma única radiação com o dobro da intensidade. Esse fenômeno é conhecido como sum peak, ou soma de picos.

No caso dos raios X mais energéticos, o espalhamento lateral do feixe primário torna o diâmetro desse sinal muito menor que o do feixe primário.

Existem diversas maneiras de se influenciar a trajetória dos raios X para melhorar a eficiência do detector, já que o sinal de raios X é pouco influenciado pelo fenômeno do direcionamento.

O fóton de raios X, em vez de ser emitido pelo átomo, pode ser completamente absorvido por um elétron de um orbital. Esse fenômeno denomina-se absorção fotoelétrica.

A contagem dos raios X será muito reduzida para uma superfície que não se encontre direcionada para o detector. Para evitar o efeito da direcionalidade, recomenda-se o uso de amostras rugosas para a microanálise.

A interação elástica entre o feixe primário e os elétrons de camadas mais internas do átomo causa a ionização deste e resulta na formação da radiação característica do átomo.

O espectro de raios X é formado pelo componente contínuo, que identifica o(s) átomo(s) presente(s) no volume de interação, e pelo componente característico, que é inespecífico e forma o background.

Processo Auger é uma transição não radioativa em que a diferença de energia entre uma camada e outra pode ser transmitida para um elétron de camada mais externa, causando a emissão de um elétron Auger com energia cinética específica.

Como o espectro total de raios X coletado é formado pela radiação característica e pela radiação contínua, a separação da radiação contínua é relevante para a quantificação da composição da amostra.

A diferença de energia na transição de camadas mais internas para camadas mais externas é característica de cada átomo e pode ser liberada pelo processo Auger e pelo processo de raios X característicos.

Quando um elétron com determinada energia é desacelerado pela interação com o núcleo carregado através do campo coulombiano, a energia que ele ganha produz a emissão de um fóton.

A microanálise por raios X incorporada à MEV é um versátil instrumento para análise química de materiais inorgânicos, mas não permite efetuar uma análise química de materiais orgânicos.

Mediante a identificação dos raios X emitidos pela amostra, quando da interação com o feixe de elétrons, é possível determinar a composição de regiões específicas de forma destrutiva.

Os detectores baseados na espectroscopia por dispersão de energia são os mais utilizados, porém sua grande desvantagem é a demora na avaliação dos elementos.

O principal motivo do grande tempo gasto para análise de resíduos de tiro por MEV é a inexistência de programas de computador que permitam a busca e análise automatizada.

O tempo gasto para análise de resíduos de tiro pode ser minimizado fazendo-se a coleta com fita de dupla face condutora de carbono aderida a um suporte específico para MEV, conhecido por stub, o qual reduz a busca a uma área de pouco mais de 100 mm².

Uma maneira eficiente e muito usada para se evitar o carregamento da amostra é por meio do depósito de uma fina camada de um material condutor, como, por exemplo, ouro, paládio ou platina.

O carregamento ocorre porque, durante a obtenção da imagem, regiões não condutoras da superfície vão gradualmente acumulando cargas positivas, à medida que o feixe vai varrendo a superfície.

O carregamento é capaz de produzir artefatos na imagem, porém esses artefatos não são capazes de comprometer severamente a qualidade da imagem obtida.

Uma maneira de se obter imagens de amostras pouco condutoras é por meio do uso de alta voltagem de aceleração no feixe de elétrons primários.

A grande quantidade de cargas que se acumula em regiões isolantes não afeta a eficiência do detector, produzindo uma imagem clara em torno dessas áreas muito carregadas.

Apesar de o detector de elétrons secundários ser bastante eficiente, as imagens geradas por ele são de difícil interpretação. Por isso, a imagem de elétrons secundários é pouco usada na microscopia eletrônica de varredura.

A polarização da grade na frente do detector pode ser alterada continuamente de um valor máximo de +300 V até aproximadamente –200 V. Essa diferença, porém, não altera a quantidade de elétrons secundários que poderão ser captados pelo detector, já que esse potencial não afeta suas trajetórias.

Devido à influência da topografia, os elétrons secundários de regiões direcionadas para o detector não sofrem obstrução no caminho em direção a ele, gerando imagens mais escuras do que as imagens de regiões que têm o caminho obstruído em direção ao detector.

Para a detecção de elétrons retroespalhados pelo detector de estado sólido é necessário o uso da grade coletora, pois esses elétrons são de baixa energia.

O sinal de elétrons retroespalhados sempre estará presente no detector de elétrons secundários, independentemente da polarização da grade. Mas se essa polarização for positiva, os elétrons retroespalhados serão altamente mascarados pela grande quantidade de elétrons secundários.

Aberração cromática é o resultado do campo magnético não simétrico, de modo que a lente atua de maneira diferente nas diferentes direções do feixe eletrônico.

O astigmatismo ocorre quando a deflexão das trajetórias dos elétrons causada pelo campo magnético é maior para os elétrons mais distantes do centro do eixo óptico. Nesse caso, a deflexão do feixe eletrônico originará vários focos, cujas posições dependerão da distância do centro do eixo óptico.

A aberração esférica ocorre como resultado da variação de energia dos elétrons do feixe primário. A deflexão da trajetória dos elétrons depende não somente da sua posição, mas também da sua energia. Dessa maneira, os elétrons posicionados a uma mesma distância do centro do eixo eletrônico serão focados em pontos diferentes, dependendo dos valores de suas energias.

O efeito do astigmatismo é detectado quando, ao se focar a imagem, a mesma apresenta-se levemente desfocada acima ou abaixo da distância focal correta, ficando esticada em direções perpendiculares.

O astigmatismo fica evidenciado para aumentos relativamente pequenos, da ordem de 2.000 vezes, e tende a desaparecer com aumentos maiores que 15.000 vezes.